The book "Основы сканирующей зондовой микроскопии" (Fundamentals of Scanning Tunneling Microscopy) is a comprehensive guide to the rapidly evolving field of scanning tunneling microscopy (STM) and its applications in materials science and physics. As the first textbook in Russian to cover the entire field of STM, it provides a detailed overview of the fundamental principles and techniques of this powerful tool for studying the surface of solids and nanostructures. The book begins by introducing the basic concepts of STM, including the tunnel effect and the behavior of electrons in metals, and then delves into the technical details of the instrumentation and experimental techniques used in STM. It covers the various types of STMs, such as contact and non-contact modes, and discusses their advantages and limitations. The book also explores the applications of STM in materials science, including the study of surfaces, thin films, and nanostructures, and highlights the potential of STM for imaging and characterizing materials at the atomic scale. One of the key themes of the book is the need to understand the process of technological evolution and its impact on the development of modern knowledge. The author emphasizes the importance of developing a personal paradigm for perceiving the technological process, as this can help individuals and society as a whole adapt to the rapid pace of technological change and navigate the complex landscape of modern science and technology. The book argues that this approach is essential for the survival of humanity and the unity of people in a world facing numerous challenges, from climate change to political polarization.

книга «Основы сканирующей зондовой микроскопии» (Основные принципы Просмотра Микроскопии Туннелирования) является подробным руководством по быстро развивающейся области просмотра микроскопии туннелирования (STM) и его применений в материаловедении и физике. Как первый учебник на русском языке, охватывающий всю область СТМ, он дает подробный обзор фундаментальных принципов и методик этого мощного инструмента для изучения поверхности твердых тел и наноструктур. Книга начинается с введения основных понятий STM, включая туннельный эффект и поведение электронов в металлах, а затем углубляется в технические детали инструментария и экспериментальных методов, используемых в STM. Он охватывает различные типы STM, такие как контактный и бесконтактный режимы, и обсуждает их преимущества и ограничения. Книга также исследует применение STM в материаловедении, включая изучение поверхностей, тонких пленок и наноструктур, и освещает потенциал STM для визуализации и характеристики материалов в атомном масштабе. Одна из ключевых тем книги - необходимость понимания процесса технологической эволюции и его влияния на развитие современных знаний. Автор подчеркивает важность выработки личностной парадигмы восприятия технологического процесса, так как это может помочь личности и обществу в целом адаптироваться к быстрым темпам технологических изменений и ориентироваться в сложном ландшафте современной науки и техники. В книге утверждается, что этот подход необходим для выживания человечества и единства людей в мире, сталкивающемся с многочисленными проблемами, от изменения климата до политической поляризации.

livre s bases de la microscopie par sonde à balayage (Principes de base de la visualisation de la microscopie de tunnel) est un guide détaillé sur le domaine en évolution rapide de la visualisation de la microscopie de tunnel (STM) et ses applications en science des matériaux et en physique. En tant que premier manuel en russe couvrant tout le domaine de la STM, il donne un aperçu détaillé des principes fondamentaux et des techniques de cet outil puissant pour étudier la surface des solides et des nanostructures. livre commence par l'introduction des notions de base de la STM, y compris l'effet tunnel et le comportement des électrons dans les métaux, puis est approfondi dans les détails techniques de la boîte à outils et des méthodes expérimentales utilisées dans la STM. Il couvre différents types de STM, tels que les modes contact et sans contact, et discute de leurs avantages et contraintes. livre explore également les applications de la STM en science des matériaux, y compris l'étude des surfaces, des films minces et des nanostructures, et met en lumière le potentiel de la STM pour l'imagerie et la caractérisation des matériaux à l'échelle atomique. L'un des principaux thèmes du livre est la nécessité de comprendre le processus d'évolution technologique et son impact sur le développement des connaissances modernes. L'auteur souligne l'importance d'élaborer un paradigme personnel de la perception du processus technologique, car cela peut aider la personne et la société dans son ensemble à s'adapter au rythme rapide des changements technologiques et à s'orienter dans le paysage complexe de la science et de la technologie modernes. livre affirme que cette approche est nécessaire à la survie de l'humanité et à l'unité des gens dans un monde confronté à de nombreux défis, du changement climatique à la polarisation politique.

libro «Fundamentos de la microscopía de sonda de escaneo» (Principios básicos de la visión de la microscopía de tunelización) es una guía detallada sobre el rápido desarrollo del campo de visión de microscopía de túnel (STM) y sus aplicaciones en ciencia de materiales y física. Como el primer libro de texto en ruso que cubre todo el área de STM, proporciona una descripción detallada de los principios y técnicas fundamentales de esta poderosa herramienta para el estudio de la superficie de sólidos y nanoestructuras. libro comienza con la introducción de los conceptos básicos del STM, incluyendo el efecto túnel y el comportamiento de los electrones en los metales, y luego profundiza en los detalles técnicos del instrumental y las técnicas experimentales utilizadas en el STM. Cubre diferentes tipos de STM, como los modos de contacto y sin contacto, y discute sus ventajas y limitaciones. libro también explora las aplicaciones de STM en ciencia de materiales, incluyendo el estudio de superficies, películas finas y nanoestructuras, e ilumina el potencial de STM para visualizar y caracterizar materiales a escala atómica. Uno de los temas clave del libro es la necesidad de entender el proceso de evolución tecnológica y su impacto en el desarrollo del conocimiento moderno. autor destaca la importancia de generar un paradigma personal para la percepción del proceso tecnológico, ya que esto puede ayudar al individuo y a la sociedad en general a adaptarse al ritmo rápido del cambio tecnológico y navegar por el complejo panorama de la ciencia y la tecnología modernas. libro sostiene que este enfoque es necesario para la supervivencia de la humanidad y la unidad de las personas en un mundo que enfrenta múltiples desafíos, desde el cambio climático hasta la polarización política.

O livro «Fundamentos da microscopia de escaneamento de sondas» (Princípios Básicos de Visualização da Microscopia de Túneis) é um guia detalhado sobre a área de visualização da microscopia de túneis (STM) e suas aplicações em materiais e física. Como o primeiro tutorial em russo a cobrir toda a área do STM, ele fornece uma visão detalhada dos princípios e técnicas fundamentais desta poderosa ferramenta para estudar a superfície de sólidos e nanoestruturas. O livro começa com a introdução de conceitos básicos de STM, incluindo o efeito de túnel e o comportamento de elétrons em metais, e depois é aprofundado em detalhes técnicos de ferramentas e métodos experimentais usados no STM. Ele abrange diferentes tipos de STM, como os modos de contato e sem contato, e discute suas vantagens e limitações. O livro também explora as aplicações do STM na ciência de materiais, incluindo o estudo de superfícies, filmes finos e nanoestruturas, e ilumina o potencial do STM para visualizar e caracterizar materiais em escala atômica. Um dos principais temas do livro é a necessidade de compreender o processo de evolução tecnológica e seus efeitos no desenvolvimento do conhecimento moderno. O autor ressalta a importância de desenvolver um paradigma pessoal para a percepção do processo tecnológico, já que isso pode ajudar a personalidade e a sociedade em geral a se adaptar ao ritmo rápido das mudanças tecnológicas e se orientar na complexa paisagem da ciência e tecnologia moderna. O livro afirma que esta abordagem é necessária para a sobrevivência da humanidade e a unidade das pessoas em um mundo que enfrenta muitos desafios, desde a mudança climática até a polarização política.

Il libro «Basi della microscopia della sonda di scansione» è una guida dettagliata all'area in rapida evoluzione della visualizzazione della microscopia del tunnel (STM) e delle sue applicazioni nella scienza dei materiali e nella fisica. Come primo manuale in russo, che copre l'intera area di STM, fornisce una panoramica dettagliata dei principi fondamentali e delle metodologie di questo potente strumento per studiare le superfici dei solidi e delle nanostrutture. Il libro inizia con l'introduzione dei concetti di base STM, tra cui l'effetto tunnel e il comportamento degli elettroni nei metalli, per poi approfondire i dettagli tecnici degli strumenti e dei metodi sperimentali utilizzati in STM. Copre diversi tipi di STM, come le modalità di contatto e senza contatto, e ne discute i vantaggi e i limiti. Il libro esplora anche l'uso di STM nella scienza dei materiali, tra cui lo studio di superfici, pellicole sottili e nanostrutture, e mette in luce il potenziale di STM per la visualizzazione e la caratterizzazione dei materiali su scala atomica. Uno dei temi chiave del libro è la necessità di comprendere l'evoluzione tecnologica e il suo impatto sullo sviluppo della conoscenza moderna. L'autore sottolinea l'importanza di sviluppare un paradigma personale per la percezione del processo tecnologico, poiché può aiutare la personalità e la società in generale ad adattarsi al rapido ritmo dei cambiamenti tecnologici e orientarsi nel complesso panorama della scienza e della tecnologia moderna. Il libro sostiene che questo approccio è essenziale per la sopravvivenza dell'umanità e dell'unità delle persone in un mondo che affronta numerose sfide, dal cambiamento climatico alla polarizzazione politica.

Das Buch „Grundlagen der Rastersondenmikroskopie“ (Grundprinzipien der Durchsicht der Tunnelmikroskopie) ist ein detaillierter itfaden für das sich schnell entwickelnde Feld der Durchsicht der Tunnelmikroskopie (STM) und ihrer Anwendungen in den Materialwissenschaften und der Physik. Als erstes hrbuch in russischer Sprache, das den gesamten Bereich der Eigenständigkeit abdeckt, gibt es einen detaillierten Überblick über die grundlegenden Prinzipien und Techniken dieses leistungsstarken Werkzeugs zur Untersuchung der Oberfläche von Festkörpern und Nanostrukturen. Das Buch beginnt mit einer Einführung in die grundlegenden Konzepte von STM, einschließlich des Tunneleffekts und des Verhaltens von Elektronen in Metallen, und geht dann tiefer in die technischen Details des Instrumentariums und der experimentellen Methoden, die in STM verwendet werden. Es umfasst verschiedene Arten von STMs wie Kontakt- und kontaktlose Modi und diskutiert deren Vorteile und Einschränkungen. Das Buch untersucht auch die Anwendung von STM in der Materialwissenschaft, einschließlich der Untersuchung von Oberflächen, dünnen Schichten und Nanostrukturen, und beleuchtet das Potenzial von STM für die Visualisierung und Charakterisierung von Materialien auf atomarer Ebene. Eines der Hauptthemen des Buches ist die Notwendigkeit, den Prozess der technologischen Evolution und ihre Auswirkungen auf die Entwicklung des modernen Wissens zu verstehen. Der Autor betont die Bedeutung der Entwicklung eines persönlichen Paradigmas der Wahrnehmung des technologischen Prozesses, da dies dem Einzelnen und der Gesellschaft als Ganzes helfen kann, sich an das schnelle Tempo des technologischen Wandels anzupassen und sich in der komplexen Landschaft der modernen Wissenschaft und Technologie zurechtzufinden. Das Buch argumentiert, dass dieser Ansatz für das Überleben der Menschheit und die Einheit der Menschen in einer Welt, die mit zahlreichen Herausforderungen konfrontiert ist, vom Klimawandel bis zur politischen Polarisierung, unerlässlich ist.

Fundamentals of Scanning Probe Microscopy (Basic Principles of Tunneling Microscopy Viewing) to szczegółowy przewodnik po szybko rozwijającej się dziedzinie mikroskopii tunelowania (STM) i jej zastosowań w materiałoznawstwie i fizyce. Jako pierwszy podręcznik w języku rosyjskim obejmujący całą dziedzinę STM, zawiera szczegółowy przegląd podstawowych zasad i technik tego potężnego narzędzia do badania powierzchni ciał stałych i nanostruktur. Książka rozpoczyna się od wprowadzenia podstawowych koncepcji STM, w tym efektu tunelowania i zachowania elektronów w metalach, a następnie rozpoczyna się w szczegółach technicznych oprzyrządowania i metod eksperymentalnych stosowanych w STM. Obejmuje różne rodzaje STM, takie jak tryby kontaktowe i bezstykowe, a także omawia ich korzyści i ograniczenia. Książka bada również zastosowanie STM w nauce o materiałach, w tym badania powierzchni, cienkich folii i nanostruktur, i oświetla potencjał STM do wizualizacji i scharakteryzowania materiałów w skali atomowej. Jednym z kluczowych tematów książki jest potrzeba zrozumienia procesu ewolucji technologicznej i jej wpływu na rozwój nowoczesnej wiedzy. Autor podkreśla znaczenie rozwoju osobistego paradygmatu postrzegania procesu technologicznego, ponieważ może to pomóc jednostce i całemu społeczeństwu w dostosowaniu się do szybkiego tempa zmian technologicznych i nawigacji złożonego krajobrazu nowoczesnej nauki i technologii. Książka twierdzi, że takie podejście jest niezbędne dla przetrwania ludzkości i jedności ludzi w świecie stojącym przed wieloma wyzwaniami, od zmian klimatycznych po polaryzację polityczną.

''

The Fundamentals of Scanning Probe Microscopy (Basic Principles of Tunneling Microscopy Viewing) kitabı, hızla gelişen tünelleme mikroskobu görüntüleme (STM) alanına ve malzeme bilimi ve fiziğindeki uygulamalarına ayrıntılı bir kılavuzdur. STM'nin tüm alanını kapsayan Rusça'daki ilk ders kitabı olarak, katıların ve nanoyapıların yüzeyini incelemek için bu güçlü aracın temel ilkeleri ve teknikleri hakkında ayrıntılı bir genel bakış sunar. Kitap, metallerdeki elektronların tünelleme etkisi ve davranışı da dahil olmak üzere STM'nin temel kavramlarını tanıtarak başlar ve daha sonra STM'de kullanılan enstrümantasyon ve deneysel yöntemlerin teknik ayrıntılarını inceler. Temas ve temassız modlar gibi farklı STM türlerini kapsar ve faydalarını ve sınırlamalarını tartışır. Kitap ayrıca yüzeylerin, ince filmlerin ve nanoyapıların incelenmesi de dahil olmak üzere malzeme biliminde STM'nin uygulanmasını araştırıyor ve STM'nin materyalleri atomik ölçekte görselleştirme ve karakterize etme potansiyelini aydınlatıyor. Kitabın ana konularından biri, teknolojik evrim sürecini ve modern bilginin gelişimi üzerindeki etkisini anlama ihtiyacıdır. Yazar, teknolojik sürecin algılanması için kişisel bir paradigma geliştirmenin önemini vurgulamaktadır, çünkü bu, bireyin ve toplumun bir bütün olarak teknolojik değişimin hızlı hızına uyum sağlamasına ve modern bilim ve teknolojinin karmaşık manzarasında gezinmesine yardımcı olabilir. Kitap, bu yaklaşımın insanlığın hayatta kalması ve iklim değişikliğinden siyasi kutuplaşmaya kadar sayısız zorlukla karşı karşıya olan bir dünyada insanların birliği için gerekli olduğunu savunuyor.

كتاب أساسيات الفحص المجهري للمسبار الضوئي (المبادئ الأساسية لمشاهدة الفحص المجهري للأنفاق) هو دليل مفصل للمجال سريع التطور لمشاهدة الفحص المجهري للأنفاق (STM) وتطبيقاته في علوم المواد والفيزياء. باعتباره أول كتاب مدرسي باللغة الروسية يغطي مجال STM بأكمله، فإنه يقدم لمحة عامة مفصلة عن المبادئ والتقنيات الأساسية لهذه الأداة القوية لدراسة سطح المواد الصلبة والهياكل النانوية. يبدأ الكتاب بإدخال المفاهيم الأساسية لـ STM، بما في ذلك تأثير الأنفاق وسلوك الإلكترونات في المعادن، ثم يتعمق في التفاصيل التقنية للأجهزة والطرق التجريبية المستخدمة في STM. يغطي أنواعًا مختلفة من STM، مثل أوضاع الاتصال وعدم التلامس، ويناقش فوائدها وقيودها. يستكشف الكتاب أيضًا تطبيق STM في علم المواد، بما في ذلك دراسة الأسطح والأغشية الرقيقة والهياكل النانوية، ويضيء قدرة STM على تصور المواد وتوصيفها على المستوى الذري. أحد الموضوعات الرئيسية للكتاب هو الحاجة إلى فهم عملية التطور التكنولوجي وتأثيرها على تطوير المعرفة الحديثة. ويشدد المؤلف على أهمية وضع نموذج شخصي لتصور العملية التكنولوجية، لأن ذلك يمكن أن يساعد الفرد والمجتمع ككل على التكيف مع الوتيرة السريعة للتغير التكنولوجي والتنقل في المشهد المعقد للعلوم والتكنولوجيا الحديثة. يجادل الكتاب بأن هذا النهج ضروري لبقاء البشرية ووحدة الناس في عالم يواجه العديد من التحديات، من تغير المناخ إلى الاستقطاب السياسي.

스캐닝 프로브 현미경 (터널링 현미경 조회의 기본 원리) 책은 빠르게 진화하는 터널링 현미경 조회 (STM) 분야와 재료 과학 및 물리학 응용 분야에 대한 자세한 안내서입니다. STM의 전체 분야를 다루는 러시아 최초의 교과서로서, 고체와 나노 구조의 표면을 연구하기위한이 강력한 도구의 기본 원리와 기술에 대한 자세한 개요를 제공합니다. 이 책은 금속에서 전자의 터널링 효과 및 거동을 포함하여 STM의 기본 개념을 소개 한 다음 STM에 사용 된 계측 및 실험 방법의 기술적 세부 사항을 탐구합니다. 접촉 및 비접촉식 모드와 같은 다양한 유형의 STM을 다루며 이점과 한계에 대해 설명합니다. 이 책은 또한 표면, 박막 및 나노 구조 연구를 포함하여 재료 과학에 STM의 적용을 탐구하고 원자 규모로 재료를 시각화하고 특성화 할 수있는 STM의 잠재력을 밝힙니다. 이 책의 주요 주제 중 하나는 기술 진화 과정과 현대 지식 개발에 미치는 영향을 이해해야한다는 것입니다. 저자는 개인과 사회가 빠른 속도의 기술 변화에 적응하고 현대 과학 기술의 복잡한 환경을 탐색하는 데 도움이 될 수 있기 때문에 기술 프로세스 인식을위한 개인 패러다임 개발의 중요성을 강조합니다. 이 책은이 접근법이 기후 변화에서 정치적 양극화에 이르기까지 수많은 도전에 직면 한 인류의 생존과 세계 사람들의 통일성에 필요하다고 주장한다.

Scanning Probe Microscopyの基礎（Tunneling Microscopy Viewingの基本原則）本は急速に進化するTunneling Microscopy Viewing （STM）とその材料科学および物理学の応用の詳細なガイドです。STMの全分野をカバーするロシア語の最初の教科書として、固体およびナノ構造の表面を研究するためのこの強力なツールの基本原理と技術の詳細な概要を提供します。まず、金属中の電子のトンネル効果や振る舞いなど、STMの基本的な概念を紹介し、STMで用いられている計装や実験方法の技術的な詳細を掘り下げる。接触モードや非接触モードなど、さまざまな種類のSTMをカバーし、その利点と制限について説明します。また、材料科学における表面、薄膜、ナノ構造の研究を含むSTMの応用を探求し、STMが原子スケールで材料を可視化し特徴付ける可能性を明らかにしている。この本の主要なトピックの1つは、技術進化の過程と現代の知識の発展への影響を理解する必要性である。著者は、個人と社会全体が技術変化の急速なペースに適応し、現代の科学技術の複雑な風景をナビゲートするのを助けることができるので、技術プロセスの認識のための個人的なパラダイムを開発することの重要性を強調しています。本書は、このアプローチは、気候変動から政治的分極化まで、数多くの課題に直面している世界における人類の存続と人々の団結のために必要であると論じている。

書「掃描探針顯微鏡的基本原理」是快速發展的隧道顯微鏡觀察領域（STM）及其在材料科學和物理學中的應用的詳細指南。作為第一本涵蓋整個STM領域的俄語教科書，它詳細介紹了這種研究固體表面和納米結構的強大工具的基本原理和技術。本書首先介紹了STM的基本概念，包括隧道效應和電子在金屬中的行為，然後深入研究了STM中使用的工具包和實驗方法的技術細節。它涵蓋了不同類型的STM，例如接觸和非接觸模式，並討論了它們的優點和局限性。該書還探討了STM在材料科學中的應用，包括對表面，薄膜和納米結構的研究，並闡明了STM在原子尺度上可視化和表征材料的潛力。本書的主要主題之一是需要了解技術進化的過程及其對現代知識發展的影響。作者強調建立技術過程感知的人格範式的重要性，因為這可以幫助個人和整個社會適應技術變革的快速步伐，並駕馭現代科學和技術的復雜景觀。該書認為，從氣候變化到政治兩極分化，這種方法對於人類生存和人類在面臨許多挑戰的世界中的團結至關重要。