Book Description: Fundamentals of Reliability of Semiconductor Devices and Integrated Circuits Author: 1988 256 М, Радио и связь The book "Fundamentals of Reliability of Semiconductor Devices and Integrated Circuits" by provides a comprehensive overview of the current state of the art of semiconductor device and circuit design and manufacture, focusing on the reliability of these components in various electronic equipment. The author emphasizes the importance of understanding the technology evolution process and developing a personal paradigm for perceiving the technological advancements of modern knowledge as the basis for human survival and unity in a warring world. The book begins with an introduction to the physical representations of semiconductor devices and integrated circuits, highlighting the factors that influence their reliability, such as defects in initial materials and failure mechanisms. The author delves into the details of these failures, providing a thorough analysis of the various methods used to ensure reliable operation in different types of electronic equipment. Chapter 1: Introduction to Reliability of Semiconductor Devices and Integrated Circuits In this chapter, the author introduces the concept of reliability and its significance in the development of semiconductor devices and integrated circuits. The author discusses the need to understand the technology evolution process and the importance of developing a personal paradigm for perceiving the advancements of modern knowledge.

Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных схем Автор: 1988 256 М, Радио и связь книга «Основные принципы Надежности Полупроводниковых Устройств и Интегральных схем» предоставляет всесторонний обзор текущего уровня техники полупроводникового устройства и проектирования схем и изготовления, сосредотачивающегося на надежности этих компонентов в различном электронном оборудовании. Автор подчеркивает важность понимания процесса эволюции технологий и выработки личностной парадигмы восприятия технологических достижений современных знаний как основы выживания и единства человека в воюющем мире. Книга начинается с введения в физические представления полупроводниковых приборов и интегральных схем, освещая факторы, влияющие на их надежность, такие как дефекты исходных материалов и механизмы отказов. Автор углубляется в детали этих сбоев, предоставляя тщательный анализ различных методов, используемых для обеспечения надежной работы в различных типах электронного оборудования. Глава 1: Введение в надежность полупроводниковых приборов и интегральных схем В этой главе автор вводит понятие надежности и ее значение при разработке полупроводниковых приборов и интегральных схем. Автор обсуждает необходимость понимания процесса эволюции технологий и важность разработки личной парадигмы для восприятия достижений современных знаний.

Fundamentos de la fiabilidad de los dispositivos semiconductores y circuitos integrados Autor: 1988 256 M, Radio y Comunicaciones libro «Principios básicos de fiabilidad de los dispositivos semiconductores y circuitos integrados» ofrece una visión completa del nivel actual de la técnica del dispositivo semiconductor y del diseño de esquemas y fabricación, centrándose en la fiabilidad de estos componentes en diferentes equipos electrónicos. autor subraya la importancia de comprender el proceso de evolución de la tecnología y de generar un paradigma personal para percibir los avances tecnológicos del conocimiento moderno como base para la supervivencia y la unidad del hombre en un mundo en guerra. libro comienza con la introducción en las representaciones físicas de los aparatos semiconductores y circuitos integrados, destacando los factores que influyen en su fiabilidad, como defectos en los materiales originales y mecanismos de fallas. autor profundiza en los detalles de estos fallos, aportando un análisis exhaustivo de las diferentes técnicas empleadas para garantizar un funcionamiento fiable en los diferentes tipos de equipos electrónicos. Capítulo 1: Introducción a la fiabilidad de los dispositivos semiconductores y circuitos integrados En este capítulo, el autor introduce el concepto de fiabilidad y su significado en el desarrollo de instrumentos semiconductores y circuitos integrados. autor discute la necesidad de entender el proceso de evolución de la tecnología y la importancia de desarrollar un paradigma personal para percibir los avances del conocimiento moderno.

Basi di affidabilità dei semiconduttori e dei circuiti integrati Autore: 1988 256 M, Radio e Comunicazione, il libro «Principi fondamentali di affidabilità Semiconduttori e Circuiti Integrati» fornisce una panoramica completa del livello attuale della tecnologia del semiconduttore e della progettazione dei circuiti e della fabbricazione, che si concentra sull'affidabilità di questi componenti in diversi dispositivi elettronici. L'autore sottolinea l'importanza di comprendere l'evoluzione della tecnologia e di sviluppare un paradigma personale per la percezione dei progressi tecnologici delle conoscenze moderne come base per la sopravvivenza e l'unità dell'uomo in un mondo in guerra. Il libro inizia con l'introduzione nelle rappresentazioni fisiche degli apparecchi semiconduttori e dei circuiti integrati, mettendo in luce i fattori che influenzano la loro affidabilità, come i difetti dei materiali di origine e i meccanismi di guasto. L'autore approfondisce i dettagli di questi guasti, fornendo un'analisi approfondita dei vari metodi utilizzati per garantire un funzionamento affidabile in diversi tipi di apparecchiature elettroniche. Capitolo 1: Introduzione all'affidabilità degli apparecchi semiconduttori e dei circuiti integrati In questo capitolo, l'autore introduce il concetto di affidabilità e il suo significato nello sviluppo di semiconduttori e circuiti integrati. L'autore discute della necessità di comprendere l'evoluzione della tecnologia e dell'importanza di sviluppare un paradigma personale per la percezione dei progressi delle conoscenze moderne.

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半導体デバイスと集積回路の信頼性の基礎著者： 1988 256 M、 Radio and Communications本「半導体デバイスと集積回路の信頼性の基本原則」は、さまざまな電子機器におけるこれらの部品の信頼性に焦点を当て、半導体デバイスと回路設計と製造の技術の現在の状態の包括的な概要を提供します。著者は、科学技術の進化の過程を理解し、戦争世界における人間の生存と団結の基礎としての現代の知識の技術的成果の認識のための個人的なパラダイムを開発することの重要性を強調しています。本書では、半導体デバイスや集積回路の物理的表現を紹介し、材料の欠陥や故障メカニズムなどの信頼性に影響を与える要因を紹介します。著者は、これらの故障の詳細を掘り下げ、さまざまな種類の電子機器の信頼性の高い動作を確保するために使用されるさまざまな方法の徹底的な分析を提供します。第1章：半導体デバイスと集積回路の信頼性の紹介この章では、半導体デバイスと集積回路の開発における信頼性の概念とその重要性を紹介します。著者は、技術の進化を理解する必要性と、現代の知識の成果を知覚するための個人的なパラダイムを開発することの重要性について論じています。