'Испытание и исследование полупроводниковых приборов' - A Comprehensive Guide to Measuring Semiconductor Devices 'Испытание и исследование полупроводниковых приборов' (Experience and Research of Semiconductor Devices) Author: Аронов В. Л. , Федотов Я. А. 1975 The book 'Испытание и исследование полупроводниковых приборов' by Аронов В. Л. , Федотов Я. А. is an exhaustive guide to measuring and testing semiconductor devices, providing readers with a comprehensive understanding of the principles and methods involved in the process. With the rapid evolution of technology, it is crucial to develop a personal paradigm for perceiving the technological advancements in modern knowledge, and this book serves as a valuable resource for anyone looking to gain a deeper understanding of semiconductor devices. The book begins by highlighting the significance of accurately measuring the parameters of semiconductor devices, emphasizing the importance of precise measurement to ensure the quality and reliability of these devices. The author then delves into the basic principles of parameter measurement errors and estimates methods for measuring static parameters such as bipole and four-terminal parameters using small signal pulse parameters, noise, and thermal parameters.

'Испытание и исследование полупроводниковых приборов'- подробное руководство по имеющим размеры полупроводниковым устройствам 'Испытание и исследование полупроводниковых приборов'(Опыт и исследование полупроводниковых устройств) автор: Аронов В.Л., Федотов Я.А. 1975 книга 'Испытание и исследование полупроводниковых приборов'Аронов В.Л., Федотов Я.А. исчерпывающий справочник по измерению и тестированию полупроводниковых устройств, предоставляя читателям всестороннее понимание принципов и методов, вовлеченных в процесс. С быстрым развитием технологий крайне важно разработать личную парадигму для восприятия технологических достижений в современных знаниях, и эта книга служит ценным ресурсом для всех, кто хочет получить более глубокое понимание полупроводниковых устройств. Книга начинается с освещения значимости точного измерения параметров полупроводниковых приборов, подчёркивая важность точного измерения для обеспечения качества и надёжности этих приборов. Затем автор углубляется в основные принципы ошибок измерения параметров и оценивает методы измерения статических параметров, таких как двухполюсники и четырехполюсники, с использованием малых параметров сигнальных импульсов, шумов и тепловых параметров.

« Essai et étude des dispositifs semi-conducteurs » - Guide détaillé sur les dispositifs semi-conducteurs dimensionnés « Essai et étude des dispositifs semi-conducteurs » (Expérience et étude des dispositifs semi-conducteurs) Auteur : Aronov V.L., Fedotov Y.A. 1975 Livre « Essai et étude des dispositifs semi-conducteurs » Aronov V.L., Fedotov dispositifs semi-conducteurs, fournissant aux lecteurs une compréhension complète des principes et des méthodes impliqués dans le processus. Avec le développement rapide de la technologie, il est essentiel de développer un paradigme personnel pour percevoir les progrès technologiques dans les connaissances modernes, et ce livre est une ressource précieuse pour tous ceux qui veulent acquérir une meilleure compréhension des dispositifs semi-conducteurs. livre commence par mettre en évidence l'importance de la mesure précise des paramètres des semi-conducteurs, soulignant l'importance d'une mesure précise pour assurer la qualité et la fiabilité de ces appareils. L'auteur explore ensuite les principes de base des erreurs de mesure des paramètres et évalue les méthodes de mesure des paramètres statiques, tels que les bipolaires et les quadruples, en utilisant de petits paramètres d'impulsions de signal, de bruits et de paramètres thermiques.

«Prueba y estudio de instrumentos semiconductores» - guía detallada de dispositivos semiconductores de tamaño «Prueba e investigación de instrumentos semiconductores» (Experiencia e investigación de dispositivos semiconductores) Autor: Aronov V.L., Fedotov Y.A. 1975 libro «Prueba e investigación de instrumentos semiconductores» Aa Ron V.L., Fedotov Y.A. una guía exhaustiva de medición y prueba de dispositivos semiconductores, proporcionando a los lectores una comprensión completa de los principios y técnicas involucrados en el proceso. Con el rápido desarrollo de la tecnología, es crucial desarrollar un paradigma personal para percibir los avances tecnológicos en el conocimiento actual, y este libro sirve como un recurso valioso para cualquier persona que desee obtener una comprensión más profunda de los dispositivos semiconductores. libro comienza resaltando la importancia de medir con precisión los parámetros de los instrumentos semiconductores, destacando la importancia de la medición precisa para garantizar la calidad y fiabilidad de estos instrumentos. A continuación, el autor profundiza en los principios básicos de los errores de medición de parámetros y evalúa los métodos de medición de parámetros estáticos, como los bipolares y los cuatro polos, utilizando pequeños parámetros de pulsos de señal, ruidos y parámetros térmicos.

«Test e esplorazione degli apparecchi semiconduttori» - guida dettagliata ai semiconduttori di dimensioni «Test e ricerca degli apparecchi semiconduttori» (Esperienza e ricerca dei semiconduttori) scritto da Aron V.L., Fedotov Y.A. 1975 «Test e ricerca degli strumenti semiconduttori» Aroni V.L., Fedotov E-A. è una guida completa per misurare e testare i dispositivi semiconduttori, fornendo ai lettori un'ampia comprensione dei principi e dei metodi coinvolti nel processo. Con il rapido sviluppo della tecnologia, è fondamentale sviluppare un paradigma personale per la percezione dei progressi tecnologici nella conoscenza moderna, e questo libro è una risorsa preziosa per tutti coloro che vogliono una migliore comprensione dei semiconduttori. Il libro inizia con l'illuminare l'importanza della misura precisa dei parametri dei semiconduttori, sottolineando l'importanza di una misura precisa per garantire la qualità e l'affidabilità di questi strumenti. L'autore approfondisce i principi di base degli errori di misurazione dei parametri e valuta i metodi di misurazione dei parametri statici, quali i due poli e i quattro poli, utilizzando piccoli parametri di impulsi, rumori e parametri termici.

„Test and Research of Semiconductor Devices“ - ein ausführlicher itfaden für dimensionierte Halbleitergeräte „Test and Research of Semiconductor Devices“ (Erfahrung und Forschung von Halbleitergeräten) Autor: Aronov V.L., Fedotov J. A. 1975 Buch „Test and Research of Semiconductor Devices“ Aronov V.L., Fedotov J. A. umfassende Referenz zum Messen und testen von Halbleitergeräten indem den sern ein umfassendes Verständnis der am Prozess beteiligten Prinzipien und Methoden vermittelt wird. Mit der rasanten Entwicklung der Technologie ist es von entscheidender Bedeutung, ein persönliches Paradigma zu entwickeln, um den technologischen Fortschritt im heutigen Wissen wahrzunehmen, und dieses Buch dient als wertvolle Ressource für alle, die ein tieferes Verständnis von Halbleiterbauelementen erlangen möchten. Das Buch beginnt mit der Hervorhebung der Bedeutung der genauen Messung der Parameter von Halbleiterbauelementen und betont die Bedeutung der genauen Messung, um die Qualität und Zuverlässigkeit dieser Bauelemente sicherzustellen. Der Autor geht dann auf die Grundprinzipien von Parametermessfehlern ein und bewertet Methoden zur Messung statischer Parameter wie Zwei- und Vierpol unter Verwendung kleiner Parameter von gnalimpulsen, Geräuschen und thermischen Parametern.

”בדיקה ומחקר של התקנים למוליך למחצה” - מדריך מפורט למכשירי מוליך למחצה ממדים ”בדיקה ומחקר של התקנים למוליך למחצה” (ניסיון ומחקר של התקנים למוליך למחצה) מחבר: אהרונוב V.L., פדוטוב Y.A. 1975 Book 'Testing and Research of Semiconductor Devices'Aronov V.L., פדוטוב Y.A. מדריך מקיף למדידת ובדיקת מכשירי מוליכים למחצה, המספק לקוראים הבנה מקיפה של העקרונות והשיטות הכרוכים בתהליך שים. עם ההתפתחות המהירה של הטכנולוגיה, חיוני לפתח פרדיגמה אישית לתפישת ההתקדמות הטכנולוגית בידע המודרני, וספר זה משמש כמשאב רב ערך לכל מי שרוצה לרכוש הבנה עמוקה יותר של מכשירי מוליכים למחצה. הספר מתחיל בכך שהוא מדגיש את החשיבות של מדידה מדויקת של התקנים למוליכים למחצה, ומדגיש את החשיבות של מדידה מדויקת כדי להבטיח את האיכות והמהימנות של התקנים אלה. המחבר מתעמק בעקרונות הבסיסיים של שגיאות מדידת פרמטרים ומעריך שיטות למדידת פרמטרים סטטיים, כגון ביפולים ורביעיות, באמצעות פרמטרים קטנים של פולסי אותות, רעש ופרמטרים תרמיים.''

'Yarı İletken Cihazların Test Edilmesi ve Araştırılması'- boyutlandırılmış yarı iletken cihazların ayrıntılı bir kılavuzu 'Yarı İletken Cihazların Test Edilmesi ve Araştırılması'(Yarı İletken Cihazların Deneyimi ve Araştırması) yazar: Aronov VL, Fedotov Y.A. 1975 kitabı 'Yarı İletken Cihazların Test Edilmesi ve Araştırılması'Aronov V.L., Fedotov Y.A. Yarı iletken cihazların ölçülmesi ve test edilmesi için kapsamlı bir rehber, okuyuculara süreçte yer alan ilke ve yöntemleri kapsamlı bir şekilde anlamalarını sağlar. Teknolojinin hızla gelişmesiyle birlikte, modern bilgideki teknolojik gelişmelerin algılanması için kişisel bir paradigma geliştirmek çok önemlidir ve bu kitap yarı iletken cihazlar hakkında daha derin bir anlayış kazanmak isteyen herkes için değerli bir kaynak olarak hizmet vermektedir. Kitap, yarı iletken cihazların doğru ölçümünün önemini vurgulayarak, bu cihazların kalitesini ve güvenilirliğini sağlamak için doğru ölçümün önemini vurgulayarak başlar. Yazar daha sonra parametre ölçüm hatalarının temel prensiplerini araştırır ve sinyal darbeleri, gürültü ve termal parametrelerin küçük parametrelerini kullanarak bipoller ve dörtlü gibi statik parametreleri ölçmek için yöntemleri değerlendirir.

«اختبار وأبحاث أجهزة أشباه الموصلات» - دليل مفصل لأجهزة أشباه الموصلات الأبعاد «اختبار وأبحاث أجهزة أشباه الموصلات» (تجربة وأبحاث أجهزة أشباه الموصلات) مؤلف: Aronov V.L., Fedotov Y.A. 1975 book 'Testing and Research of Semiconductor Devices'Aronov V.L., Fedotov Y.A. مع التطور السريع للتكنولوجيا، من الضروري تطوير نموذج شخصي لإدراك التقدم التكنولوجي في المعرفة الحديثة، وهذا الكتاب بمثابة مورد قيم لأي شخص يريد اكتساب فهم أعمق لأجهزة أشباه الموصلات. يبدأ الكتاب بتسليط الضوء على أهمية القياس الدقيق لأجهزة أشباه الموصلات، والتأكيد على أهمية القياس الدقيق لضمان جودة وموثوقية هذه الأجهزة. ثم يتعمق المؤلف في المبادئ الأساسية لأخطاء قياس المعلمات ويقيم طرق قياس المعلمات الثابتة، مثل الثنائيات والأربعة أضعاف، باستخدام معايير صغيرة لنبضات الإشارة والضوضاء والمعلمات الحرارية.

'반도체 장치의 테스트 및 연구'- 차원 반도체 장치 '반도체 장치의 테스트 및 연구'(반도체 장치의 경험 및 연구) 에 대한 자세한 안내서: Aronov V.L., Fedotov Y.A. 1975 년 책 '반도체 장치의 테스트 및 연구'Aronov V.L., Fedotov Y.A. 반도체 장치 측정 및 테스트에 대한 포괄적 인 가이드를 제공하여 독자에게 프로세스에 관련된 원칙과 방법을 포괄적으로 이해줍니다. 기술의 빠른 발전으로 현대 지식의 기술 발전에 대한 인식을위한 개인 패러다임을 개발하는 것이 중요하며이 책은 반도체 장치에 대한 깊은 이해를 원하는 사람에게 귀중한 자원으로 사용됩니다. 이 책은 반도체 장치의 정확한 측정의 중요성을 강조하고 이러한 장치의 품질과 신뢰성을 보장하기 위해 정확한 측정의 중요성을 강조합니다. 그런 다음 저자는 매개 변수 측정 오류의 기본 원리를 탐구하고 신호 펄스, 잡음 및 열 매개 변수의 작은 매개 변수를 사용하여 이중 극 및 사중과 같은 정적 매개 변수를 측정하는 방법을 평가합니다.

「半導体デバイスのテストと研究」-次元化された半導体デバイスの「半導体デバイスのテストと研究」（半導体デバイスの経験と研究）の詳細なガイド著者： Aronov V。L。、 Fedotov Y。A。 1975の著書「半導体デバイスのテストと研究」Aronov V。L。、 Fedotov Y。A。半導体デバイスの測定とテストに関する包括的なガイド。技術の急速な発展に伴い、現代の知識における技術の進歩を認識するための個人的なパラダイムを開発することが重要であり、この本は、半導体デバイスのより深い理解を得たい人にとって貴重なリソースとなる。まず、半導体デバイスの正確な測定の重要性を強調し、これらのデバイスの品質と信頼性を確保するための正確な測定の重要性を強調した。著者は、パラメータ測定誤差の基本原理を掘り下げ、信号パルス、ノイズ、熱パラメータの小さなパラメータを使用して、バイポールや4倍などの静的パラメータを測定する方法を評価します。

「半導體器件的測試和研究」-關於尺寸半導體器件的詳細指南「半導體器件的測試和研究」（半導體器件的經驗和研究）作者：Aronov V.L.，Fedotov Y.A. 1975的書「半導體器件的測試和研究」Aronov V.L.，Fedotov Y.A.的詳盡測量手冊。以及半導體設備的測試，使讀者全面了解該過程所涉及的原則和方法。隨著技術的飛速發展，開發個人範式以感知現代知識的技術進步至關重要，本書為希望更好地了解半導體器件的任何人提供了寶貴的資源。本書首先強調了精確測量半導體器件參數的重要性，強調了精確測量對於確保這些器件質量和可靠性的重要性。然後深入研究了參數測量誤差的基本原理，並使用信號脈沖、噪聲和熱參數的小參數評估了靜態參數（如雙極和四極）的測量方法。