
BOOKS - EQUIPMENT - Качество и надежность интегральных микросхем...

Качество и надежность интегральных микросхем
Author: Козырь И.Я.
Year: 1987
Pages: 138
Format: PDF
File size: 11,4 MБ
Language: RU

Year: 1987
Pages: 138
Format: PDF
File size: 11,4 MБ
Language: RU

Book Description: Качество и надежность интегральных микросхем Author: Козырь И. Я. 1987 138 Высшая школа The manual provides information on the basic concepts of theory and quantitative indicators of the quality and reliability of integrated circuits, methods of quality control calculation and assessment of reliability, as well as issues of forecasting and improving quality and reliability indicators of IMS and LSI. The book covers the following topics: 1. Introduction to the basics of integrated circuits and their importance in modern technology 2. The concept of quality and reliability in integrated circuits 3. Methods of calculating and assessing quality and reliability indicators 4. Forecasting and improving quality and reliability indicators 5. Case studies of successful implementation of quality and reliability principles in integrated circuits 6. Challenges and future directions in the development of integrated circuits 7. Conclusion and recommendations for further research The book is intended for engineers, technologists, and researchers working in the field of integrated circuits, as well as students and educators interested in the subject. It provides a comprehensive overview of the current state of the art in integrated circuit technology and highlights the key challenges and opportunities facing the industry today.
Автор Качество и надежность интегральных микросхем: Козырь И.Я. 1987 138 Высшая школа руководство предоставляет информацию о фундаментальных понятиях теории и количественных индикаторах качества и надежности интегральных схем, методы расчета контроля качества и оценки надежности, а также вопросы прогнозирования и повышения показателей качества и надежности ИСМ и ИСМ. Книга охватывает следующие темы: 1. Введение в основы интегральных схем и их значение в современной технике 2. Понятие качества и надежности в интегральных схемах 3. Методы расчета и оценки показателей качества и надежности 4. Прогнозирование и улучшение показателей качества и надежности 5. Примеры успешной реализации принципов качества и надежности в интегральных схемах 6. Вызовы и будущие направления в развитии интегральных схем 7. Заключение и рекомендации для дальнейших исследований Книга предназначена для инженеров, технологов, исследователей, работающих в области интегральных схем, а также студентов и педагогов, интересующихся предметом. В нем представлен всесторонний обзор современного состояния технологий интегральных схем и освещены ключевые проблемы и возможности, с которыми сегодня сталкивается отрасль.
Autore Qualità e affidabilità dei chip integrali: I.Y. Building 1987 138 High School Guide fornisce informazioni sui concetti fondamentali della teoria e sugli indicatori quantitativi di qualità e affidabilità dei circuiti integrali, sui metodi per il controllo della qualità e la valutazione dell'affidabilità, sulle previsioni e sull'aumento degli indicatori di qualità e affidabilità dell'ISM e dell'ISM. Il libro comprende i seguenti argomenti: 1. Introduzione alle basi dei circuiti integrali e il loro significato nella moderna tecnica 2. Il concetto di qualità e affidabilità nei circuiti integrati 3. Metodi di calcolo e valutazione di qualità e affidabilità 4. Previsione e miglioramento della qualità e dell'affidabilità 5. Esempi di successo dei principi di qualità e affidabilità nei circuiti integrati 6. Sfide e orientamenti futuri nello sviluppo dei circuiti integrativi 7. Conclusioni e raccomandazioni per ulteriori studi Il libro è rivolto a ingegneri, tecnologi, ricercatori che operano nel campo dei circuiti integrativi e studenti e insegnanti interessati alla materia. Fornisce una panoramica completa dello stato attuale della tecnologia dei circuiti integrati e illustra le principali sfide e le opportunità che il settore deve affrontare.
''
Author Quality and Reliability of Integrated Circuits: Kozyr I。Ya。 1987 138 Higher School of Managementは、理論の基本的な概念と、集積回路の品質と信頼性、品質管理の計算と信頼性の評価方法、および予測と品質と信頼性の指標の改善の問題に関する情報を提供しますIMSおよびIMS。本は次のトピックをカバーしています:1。最新技術における集積回路の基礎とその意義の紹介2。集積回路の品質と信頼性の概念3。品質・信頼性指標の算出・評価方法4。品質・信頼性指標の予測・改善5。集積回路における品質と信頼性の原則の成功例6。集積回路の開発における課題と今後の方向性7。本書は、集積回路分野に従事するエンジニア、技術者、研究者、学生、教員を対象としています。これは、集積回路技術の現在の状態の包括的な概要を提供し、今日の業界が直面している重要な課題と機会を強調しています。
