including electromagnetic interference, thermal noise, shot noise, and quantum noise, with an emphasis on the underlying physics, measurement techniques, and applications to microwave devices. The book "A Guide to Noise in Microwave Circuits, Devices, Circuits, and Measurement" offers a comprehensive exploration of the critical aspects of noise in microwave circuits, devices, and measurements, providing readers with a deep understanding of the underlying physics, measurement techniques, and practical applications. The text delves into the four primary sources of noise in microwave circuits: electromagnetic interference (EMI), thermal noise, shot noise, and quantum noise, and examines each source's physical principles, impact on device performance, and mitigation strategies. To begin with, the book provides an overview of the importance of studying noise in microwave circuits, highlighting its significance in understanding the limitations and potential of these devices. As technology continues to evolve at an unprecedented pace, it becomes increasingly crucial to grasp the intricacies of noise and its role in shaping the development of modern knowledge. This understanding forms the basis for survival in both a technological sense and a human sense, as our ability to adapt to new technologies determines our place within the ever-changing landscape of innovation. The first chapter delves into the fundamentals of EMI, which arises from external sources such as radio frequency signals, lightning, and other electrical devices. Readers will learn how EMI affects microwave circuits and devices, as well as methods for reducing its impact through shielding, filtering, and proper circuit design. This foundation sets the stage for exploring thermal noise, which results from the random motion of charge carriers in the device, and shot noise, derived from the quantized nature of current. Chapter two focuses on thermal noise, discussing its origins, measurement techniques, and the impact of temperature on microwave devices. The text also covers the concept of Johnson noise and Nyquist noise, providing readers with a solid grounding in the physics of thermal noise.

, включая электромагнитные помехи, тепловой шум, дробовой шум и квантовый шум, с акцентом на базовую физику, методы измерения и приложения к микроволновым устройствам. Книга «A Guide to Noise in Microwave Circuits, Devices, Circuits, and Measurement» предлагает всестороннее исследование критических аспектов шума в микроволновых схемах, устройствах и измерениях, предоставляя читателям глубокое понимание лежащей в основе физики, методов измерения и практических применений. Текст углубляется в четыре основных источника шума в микроволновых цепях: электромагнитные помехи (EMI), тепловой шум, дробовой шум и квантовый шум, и исследует физические принципы каждого источника, влияние на производительность устройства и стратегии смягчения. Для начала в книге дается обзор важности изучения шумов в СВЧ-схемах, подчеркивается его значение в понимании ограничений и потенциала этих устройств. По мере того, как технологии продолжают развиваться беспрецедентными темпами, все более важным становится понимание тонкостей шума и его роли в формировании развития современных знаний. Это понимание формирует основу выживания как в технологическом смысле, так и в человеческом, так как наша способность адаптироваться к новым технологиям определяет наше место в постоянно меняющемся ландшафте инноваций. Первая глава углубляется в основы ЭМП, которые возникают из внешних источников, таких как радиочастотные сигналы, молнии и другие электрические устройства. Читатели узнают, как EMI влияет на микроволновые схемы и устройства, а также методы снижения его воздействия с помощью экранирования, фильтрации и правильного проектирования схем. Эта основа закладывает основу для исследования теплового шума, который является результатом случайного движения носителей заряда в устройстве, и дробового шума, полученного из квантованной природы тока. Глава вторая посвящена тепловому шуму, обсуждая его происхождение, методы измерения и влияние температуры на микроволновые устройства. Текст также охватывает концепцию шума Джонсона и шума Найквиста, предоставляя читателям прочное заземление в физике теплового шума.

, y compris les interférences électromagnétiques, le bruit thermique, le bruit fractionné et le bruit quantique, en mettant l'accent sur la physique de base, les méthodes de mesure et les applications aux appareils hyperfréquence. livre « A Guide to Noise in Microwave Circuits, Devices, Circuits, and Measurement » offre une étude complète des aspects critiques du bruit dans les circuits hyperfréquences, les appareils et les mesures, offrant aux lecteurs une compréhension approfondie de la physique sous-jacente, des méthodes de mesure et des applications pratiques. texte explore les quatre principales sources de bruit dans les circuits hyperfréquences : interférence électromagnétique (IME), bruit thermique, bruit fractionné et bruit quantique, et explore les principes physiques de chaque source, l'impact sur les performances de l'appareil et les stratégies d'atténuation. Pour commencer, le livre donne un aperçu de l'importance de l'étude des bruits dans les circuits hyperfréquences et souligne son importance dans la compréhension des limites et du potentiel de ces dispositifs. À mesure que la technologie continue d'évoluer à un rythme sans précédent, il devient de plus en plus important de comprendre les subtilités du bruit et son rôle dans le développement des connaissances modernes. Cette compréhension constitue la base de la survie au sens technologique comme au sens humain, car notre capacité d'adaptation aux nouvelles technologies détermine notre place dans le paysage en constante évolution de l'innovation. premier chapitre explore les bases de l'EMP qui proviennent de sources externes telles que les signaux RF, la foudre et d'autres dispositifs électriques. s lecteurs apprendront comment EMI affecte les circuits hyperfréquences et les appareils, ainsi que les méthodes pour réduire son impact par le blindage, le filtrage et la conception correcte des circuits. Cette base pose les bases de l'étude du bruit thermique résultant du mouvement aléatoire des porteurs de charge dans le dispositif et du bruit fractionnaire résultant de la nature quantifiée du courant. deuxième chapitre traite du bruit thermique, en discutant de son origine, des méthodes de mesure et de l'impact de la température sur les appareils à micro-ondes. texte couvre également le concept de bruit de Johnson et de bruit de Nyquist, offrant aux lecteurs une masse solide dans la physique du bruit thermique.

incluyendo interferencia electromagnética, ruido térmico, ruido fraccionario y ruido cuántico, con énfasis en física básica, técnicas de medición y aplicaciones para dispositivos de microondas. libro «A Guide to Noise in Microwave Circuits, Devices, Circuits, and Measurement» ofrece una amplia investigación sobre los aspectos críticos del ruido en circuitos, dispositivos y medidas de microondas, proporcionando a los lectores una comprensión profunda de la física subyacente, métodos de medición y prácticas aplicaciones. texto profundiza en las cuatro principales fuentes de ruido en los circuitos de microondas: interferencia electromagnética (EMI), ruido térmico, ruido fraccionario y ruido cuántico, y explora los principios físicos de cada fuente, el impacto en el rendimiento del dispositivo y las estrategias de mitigación. Para empezar, el libro ofrece una visión general de la importancia del estudio de los ruidos en los circuitos de microondas, y destaca su importancia en la comprensión de las limitaciones y el potencial de estos dispositivos. A medida que la tecnología continúa evolucionando a un ritmo sin precedentes, es cada vez más importante comprender las sutilezas del ruido y su papel en la formación del desarrollo del conocimiento moderno. Esta comprensión forma la base de la supervivencia tanto en el sentido tecnológico como en el humano, ya que nuestra capacidad de adaptación a las nuevas tecnologías determina nuestro lugar en un panorama de innovación en constante cambio. primer capítulo profundiza en los fundamentos del EMP que surgen de fuentes externas como señales de radiofrecuencia, relámpagos y otros dispositivos eléctricos. lectores aprenderán cómo la EMI afecta a los circuitos y dispositivos de microondas, así como las técnicas para reducir su impacto mediante el blindaje, el filtrado y el diseño correcto de los circuitos. Esta base sienta las bases para investigar el ruido térmico, que es el resultado del movimiento accidental de los portadores de carga en el dispositivo, y el ruido fraccionario derivado de la naturaleza cuantizada de la corriente. capítulo dos trata sobre el ruido térmico, discutiendo su origen, los métodos de medición y el efecto de la temperatura en los dispositivos de microondas. texto también cubre el concepto de ruido de Johnson y ruido de Nyquist, proporcionando a los lectores una base duradera en la física del ruido térmico.

, incluindo interferência eletromagnética, ruído térmico, ruído fracionado e ruído quântico, com foco em física básica, técnicas de medição e aplicações de micro-ondas. O livro «A Guia to Noise in Microwave Circuits, Devices, Circuits, and Measurement» oferece uma pesquisa completa sobre os aspectos críticos do ruído em micro-ondas, dispositivos e medidas, oferecendo aos leitores uma compreensão profunda da física, técnicas de medição e aplicações práticas subjacentes. O texto é aprofundado em quatro fontes principais de ruído nos circuitos de micro-ondas: interferência eletromagnética (EMI), ruído térmico, ruído fracionado e ruído quântico, e explora os princípios físicos de cada fonte, os efeitos sobre o desempenho do dispositivo e as estratégias de flexibilização. Para começar, o livro fornece uma visão geral da importância do estudo dos ruídos nos circuitos de HCV, enfatizando o seu significado na compreensão das limitações e do potencial desses dispositivos. À medida que a tecnologia continua a evoluir a um ritmo sem precedentes, é cada vez mais importante compreender as sutilezas do ruído e o seu papel na formação do conhecimento moderno. Esta compreensão constitui a base da sobrevivência, tanto no sentido tecnológico como humano, uma vez que a nossa capacidade de nos adaptarmos às novas tecnologias define o nosso lugar numa paisagem de inovação em constante evolução. O primeiro capítulo é aprofundado nas bases de EMP que surgem de fontes externas, tais como sinais de radiofrequência, raios e outros dispositivos elétricos. Os leitores aprendem como a EMI afeta os circuitos e dispositivos de micro-ondas, bem como os métodos para reduzir o seu impacto através do ecrã, filtragem e design correto de circuitos. Esta base estabelece a base para a pesquisa do ruído térmico, que é resultado do movimento aleatório dos portadores de carga no dispositivo, e do ruído fracionado derivado da natureza quântica da corrente. O capítulo 2 é sobre o ruído térmico, discutindo sua origem, técnicas de medição e efeitos da temperatura nos dispositivos de micro-ondas. O texto também abrange o conceito do ruído de Johnson e do ruído de Naiqvist, oferecendo aos leitores uma base sólida na física do ruído térmico.

, tra cui interferenze elettromagnetiche, rumore termico, rumore frazionario e rumore quantistico, con attenzione alla fisica di base, ai metodi di misurazione e alle applicazioni per i dispositivi a microonde. Il libro «A Guide to Noise in Microwave Circuits, Devices, Circuits, and Measurement» offre una ricerca completa sugli aspetti critici del rumore nei circuiti, nei dispositivi e nelle misure a microonde, fornendo ai lettori una profonda comprensione della fisica, dei metodi di misurazione e delle applicazioni pratiche. Il testo viene approfondito in quattro principali fonti di rumore nelle catene a microonde: interferenze elettromagnetiche (EMI), rumore termico, rumore frazionario e rumore quantistico, e esplora i principi fisici di ogni sorgente, gli effetti sulle prestazioni del dispositivo e le strategie di attenuazione. Per cominciare, il libro fornisce una panoramica dell'importanza di studiare i rumori nei circuiti HPV e sottolinea il suo significato nella comprensione dei limiti e del potenziale di questi dispositivi. Mentre la tecnologia continua a progredire a un ritmo senza precedenti, diventa sempre più importante comprendere la sottilità del rumore e il suo ruolo nella formazione delle conoscenze moderne. Questa comprensione costituisce la base della sopravvivenza, sia in termini tecnologici che umani, poiché la nostra capacità di adattarci alle nuove tecnologie determina il nostro posto in un panorama di innovazione in continua evoluzione. Il primo capitolo viene approfondito nelle basi delle EMP che provengono da fonti esterne, come i segnali di radiofrequenza, fulmini e altri dispositivi elettrici. I lettori impareranno come l'EMI influisce sui circuiti a microonde e sui dispositivi, così come le tecniche di riduzione del suo impatto attraverso schermate, filtraggio e corretta progettazione dei circuiti. Questa base pone le basi per la ricerca del rumore termico, che è il risultato di un movimento casuale dei supporti di carica nel dispositivo, e del rumore frazionario generato dalla natura quantistica della corrente. Il secondo capitolo è dedicato al rumore termico, discutendone l'origine, le tecniche di misurazione e l'impatto della temperatura sui dispositivi a microonde. Il testo comprende anche il concetto di rumore di Johnson e Naiqvist, fornendo ai lettori una solida terra nella fisica del rumore termico.

einschließlich elektromagnetischer Störungen, thermischem Rauschen, Schrotrauschen und Quantenrauschen, mit Schwerpunkt auf Grundphysik, Messverfahren und Anwendungen für Mikrowellengeräte. Das Buch „A Guide to Noise in Microwave Circuits, Devices, Circuits, and Measurement“ bietet eine umfassende Untersuchung kritischer Aspekte von Lärm in Mikrowellenschaltungen, Geräten und Messungen und bietet den sern einen tiefen Einblick in die zugrunde liegende Physik, Messmethoden und praktische Anwendungen. Der Text vertieft sich in vier Hauptstörquellen in Mikrowellenkreisen: elektromagnetische Interferenz (EMI), thermisches Rauschen, Schrotrauschen und Quantenrauschen und untersucht die physikalischen Prinzipien jeder Quelle, die Auswirkungen auf die Geräteleistung und die Minderungsstrategien. Zunächst gibt das Buch einen Überblick über die Bedeutung der Untersuchung von Geräuschen in Mikrowellenschaltungen und betont seine Bedeutung für das Verständnis der Einschränkungen und des Potenzials dieser Geräte. Da sich die Technologie in einem beispiellosen Tempo weiterentwickelt, wird es immer wichtiger, die Feinheiten des Lärms und seine Rolle bei der Gestaltung der Entwicklung des modernen Wissens zu verstehen. Dieses Verständnis bildet die Grundlage für das Überleben sowohl im technologischen als auch im menschlichen nne, da unsere Fähigkeit, uns an neue Technologien anzupassen, unseren Platz in der sich ständig verändernden Innovationslandschaft bestimmt. Das erste Kapitel befasst sich mit den Grundlagen von EMFs, die aus externen Quellen wie HF-gnalen, Blitzen und anderen elektrischen Geräten stammen. Die ser erfahren, wie sich EMI auf Mikrowellenschaltungen und -geräte auswirkt, sowie Methoden zur Verringerung ihrer Auswirkungen durch Abschirmung, Filterung und richtiges Schaltungsdesign. Diese Grundlage bildet die Grundlage für die Untersuchung des thermischen Rauschens, das sich aus der zufälligen Bewegung der Ladungsträger im Gerät ergibt, und des aus der quantisierten Natur des Stroms abgeleiteten Schussrauschens. Kapitel zwei befasst sich mit dem thermischen Rauschen und diskutiert dessen Ursprung, Messmethoden und den Einfluss der Temperatur auf Mikrowellengeräte. Der Text behandelt auch das Konzept von Johnson Noise und Nyquist Noise und bietet den sern eine solide Erdung in der Physik des thermischen Rauschens.

, w tym zakłócenia elektromagnetyczne, hałas termiczny, hałas strzału i szum kwantowy, z naciskiem na podstawową fizykę, metody pomiaru i zastosowania do urządzeń mikrofalowych. Książka „Przewodnik po szumach w obwodach mikrofalowych, urządzeniach, obwodach i pomiarach” oferuje kompleksowe badanie krytycznych aspektów hałasu w obwodach mikrofalowych, urządzeniach i pomiarach, zapewniając czytelnikom dogłębne zrozumienie podstawowej fizyki, metod pomiarowych i praktycznych zastosowań. Tekst zagłębia się w cztery główne źródła hałasu w obwodach mikrofalowych: zakłócenia elektromagnetyczne (EMI), hałas termiczny, hałas strzału i szum kwantowy oraz bada fizyczne zasady każdego źródła, wpływ na wydajność urządzenia i strategie łagodzenia. Na początek książka zawiera przegląd znaczenia studiowania hałasu w obwodach mikrofalowych, podkreśla jego znaczenie w zrozumieniu ograniczeń i potencjału tych urządzeń. Ponieważ technologia nadal postępuje w bezprecedensowym tempie, coraz ważniejsze staje się zrozumienie zawiłości hałasu i jego roli w kształtowaniu rozwoju nowoczesnej wiedzy. To zrozumienie stanowi podstawę przetrwania zarówno w sensie technologicznym, jak i ludzkim, ponieważ nasza zdolność adaptacji do nowych technologii decyduje o naszym miejscu w stale zmieniającym się krajobrazie innowacji. Pierwszy rozdział zagłębia się w podstawy EMF wynikające ze źródeł zewnętrznych, takich jak sygnały częstotliwości radiowej, błyskawice i inne urządzenia elektryczne. Czytelnicy dowiedzą się, jak EMI wpływa na obwody mikrofalowe i urządzenia oraz jak zmniejszyć jego wpływ poprzez ekranowanie, filtrowanie i odpowiednią konstrukcję obwodów. Ramy te stanowią podstawę do badania hałasu termicznego, który jest wynikiem losowego ruchu nośników ładunków w urządzeniu, a hałas strzelany pochodzi z ilościowego charakteru prądu. Rozdział drugi dotyczy hałasu termicznego, omawiając jego pochodzenie, metody pomiaru i wpływ temperatury na urządzenia mikrofalowe. Tekst obejmuje również koncepcję hałasu Johnsona i hałasu Nyquist, zapewniając czytelnikom silne uziemienie w fizyce hałasu termicznego.

, כולל הפרעות אלקטרומגנטיות, רעש תרמי, רעש ירי ורעש קוונטי, עם התמקדות בפיזיקה בסיסית, שיטות מדידה ויישומים להתקני מיקרוגל. הספר A Guide to Noise in Microwave Circuits, Devices, Circuits, and Medicuement מציע מחקר מקיף של היבטים קריטיים של רעש במעגלי מיקרוגל, התקנים ומדידות, המספק לקוראים הבנה מעמיקה של הפיזיקה, שיטות המדידה והיישומים המעשיים. הטקסט מתעמק בארבעת מקורות הרעש העיקריים במעגלי מיקרוגל: התאבכות אלקטרומגנטית (EMI), רעש תרמי, רעש ירי ורעש קוונטי, ובוחן את העקרונות הפיזיקליים של כל מקור, ההשפעה על ביצועי המכשיר ואסטרטגיות הפחתה. ראשית, הספר מעניק סקירה של החשיבות של חקר רעש במעגלי מיקרוגל, ומדגיש את חשיבותו בהבנת המגבלות והפוטנציאל של התקנים אלה. ככל שהטכנולוגיה ממשיכה להתקדם בקצב חסר תקדים, נעשה חשוב יותר ויותר להבין את מורכבות הרעש ואת תפקידה בעיצוב התפתחות הידע המודרני. הבנה זו מהווה את הבסיס להישרדות הן במובן הטכנולוגי והן באדם, כאשר היכולת שלנו להסתגל לטכנולוגיות חדשות קובעת את מקומנו בנוף חדשנות משתנה מתמיד. הפרק הראשון מתעמק ביסודות הפא "מ הנובעים ממקורות חיצוניים כגון אותות תדרי רדיו, ברקים ומכשירים חשמליים אחרים. הקוראים ילמדו כיצד EMI משפיעה על מעגלי מיקרוגל ומכשירים, וכיצד להפחית את השפעתו באמצעות מיגון, סינון ועיצוב מעגלי מתאים. מסגרת זו מניחה את היסודות לחקירת רעש תרמי, שהוא תוצאה של תנועה אקראית של נושאי מטען במכשיר, ורעש ירי המופק מהאופי הכמותי של הזרם. הפרק השני עוסק ברעש תרמי, דן במקורו, בשיטות המדידה ובהשפעת הטמפרטורה על מכשירי מיקרוגל. הטקסט מכסה גם את הרעיון של רעש ג 'ונסון ורעש נייקוויסט, המספק לקוראים קרקעות חזקות בפיזיקת רעש תרמית.''

, elektromanyetik girişim, termal gürültü, atış gürültüsü ve kuantum gürültüsü dahil olmak üzere, temel fizik, ölçüm yöntemleri ve mikrodalga cihazlara uygulamalar üzerine odaklanmıştır. "A Guide to Noise in Microwave Circuits, Devices, Circuits, and Measurement" (Mikrodalga Devrelerinde, Cihazlarda, Devrelerde ve Ölçümlerde Gürültü Rehberi) kitabı, mikrodalga devrelerinde, cihazlarda ve ölçümlerde gürültünün kritik yönleri hakkında kapsamlı bir çalışma sunar ve okuyuculara altta yatan fizik, ölçüm yöntemleri ve pratik uygulamalar hakkında derinlemesine bir anlayış sağlar. Metin, mikrodalga devrelerindeki gürültünün dört ana kaynağını inceler: elektromanyetik girişim (EMI), termal gürültü, atış gürültüsü ve kuantum gürültüsü ve her kaynağın fiziksel prensiplerini, cihaz performansı üzerindeki etkisini ve azaltma stratejilerini inceler. Öncelikle, kitap mikrodalga devrelerinde gürültü çalışmanın önemine genel bir bakış sunar, bu cihazların sınırlamalarını ve potansiyelini anlamadaki önemini vurgular. Teknoloji benzeri görülmemiş bir hızda ilerlemeye devam ettikçe, gürültünün inceliklerini ve modern bilginin gelişimini şekillendirmedeki rolünü anlamak giderek daha önemli hale geliyor. Bu anlayış, hem teknolojik anlamda hem de insanda hayatta kalmanın temelini oluşturur, çünkü yeni teknolojilere uyum sağlama yeteneğimiz, sürekli değişen bir yenilik manzarasındaki yerimizi belirler. İlk bölüm, radyo frekansı sinyalleri, yıldırım ve diğer elektrikli cihazlar gibi dış kaynaklardan kaynaklanan EMF'lerin temellerini incelemektedir. Okuyucular, EMI'nin mikrodalga devrelerini ve cihazlarını nasıl etkilediğini ve ekranlama, filtreleme ve uygun devre tasarımı yoluyla etkisinin nasıl azaltılacağını öğreneceklerdir. Bu çerçeve, cihazdaki yük taşıyıcılarının rastgele hareketinin sonucu olan termal gürültüyü ve akımın nicelenmiş doğasından türetilen atış gürültüsünü araştırmak için temel oluşturur. İkinci bölüm, termal gürültüyü, kaynağını, ölçüm yöntemlerini ve sıcaklığın mikrodalga cihazlar üzerindeki etkisini tartışmaktadır. Metin ayrıca Johnson gürültüsü ve Nyquist gürültüsü kavramını da kapsar ve okuyuculara termal gürültü fiziğinde güçlü bir topraklama sağlar.

، بما في ذلك التداخل الكهرومغناطيسي والضوضاء الحرارية وضوضاء اللقطات والضوضاء الكمومية، مع التركيز على الفيزياء الأساسية وطرق القياس والتطبيقات على أجهزة الميكروويف. يقدم كتاب «دليل الضوضاء في دوائر الموجات الدقيقة والأجهزة والدوائر والقياس» دراسة شاملة للجوانب الحرجة للضوضاء في دوائر وأجهزة وقياسات الموجات الدقيقة، مما يوفر للقراء فهمًا متعمقًا للفيزياء الأساسية وطرق القياس والتطبيقات العملية. يتعمق النص في المصادر الرئيسية الأربعة للضوضاء في دوائر الموجات الدقيقة: التداخل الكهرومغناطيسي (EMI)، والضوضاء الحرارية، وضوضاء الرصاص، والضوضاء الكمومية، ويفحص المبادئ الفيزيائية لكل مصدر، والتأثير على أداء الجهاز، واستراتيجيات التخفيف. بادئ ذي بدء، يقدم الكتاب لمحة عامة عن أهمية دراسة الضوضاء في دوائر الميكروويف، ويؤكد على أهميتها في فهم قيود وإمكانات هذه الأجهزة. مع استمرار تقدم التكنولوجيا بوتيرة غير مسبوقة، يصبح من المهم بشكل متزايد فهم تعقيدات الضوضاء ودورها في تشكيل تطور المعرفة الحديثة. يشكل هذا الفهم أساس البقاء على قيد الحياة بالمعنى التكنولوجي والإنسان على حد سواء، حيث أن قدرتنا على التكيف مع التقنيات الجديدة تحدد مكاننا في مشهد الابتكار المتغير باستمرار. يتعمق الفصل الأول في أساسيات EMFs التي تنشأ من مصادر خارجية مثل إشارات تردد الراديو والبرق والأجهزة الكهربائية الأخرى. سيتعلم القراء كيف يؤثر EMI على دوائر وأجهزة الميكروويف، وكيفية تقليل تأثيره من خلال الحماية والتصفية وتصميم الدائرة المناسب. يضع هذا الإطار الأساس للتحقيق في الضوضاء الحرارية، وهي نتيجة الحركة العشوائية لحاملات الشحن في الجهاز، وإطلاق الضوضاء المشتقة من الطبيعة الكمية للتيار. يتناول الفصل الثاني الضوضاء الحرارية، ويناقش أصلها وطرق القياس وتأثير درجة الحرارة على أجهزة الميكروويف. يغطي النص أيضًا مفهوم ضوضاء جونسون وضوضاء نيكويست، مما يوفر للقراء أساسًا قويًا في فيزياء الضوضاء الحرارية.

は、電磁干渉、熱雑音、ショットノイズ、量子ノイズを含み、基礎物理学、測定方法、マイクロ波デバイスへの応用に焦点を当てています。本「マイクロ波回路、デバイス、回路、測定におけるノイズのガイド」は、マイクロ波回路、デバイス、および測定におけるノイズの重要な側面を包括的に研究し、基礎となる物理学、測定方法、および実用的なアプリケーションについての詳細な理解を読者に提供します。このテキストでは、電磁干渉（EMI）、サーマルノイズ、ショットノイズ、量子ノイズという4つのマイクロ波回路の主なノイズ源を調べ、各ソースの物理的原理、デバイス性能への影響、および緩和戦略を調べます。まず、マイクロ波回路におけるノイズの研究の重要性を概観し、これらのデバイスの限界と可能性を理解する上での重要性を強調している。技術が前例のないペースで進歩し続ける中で、現代の知識の発展を形作る上でのノイズの複雑さとその役割を理解することがますます重要になります。この理解は、新しい技術に適応する能力が絶えず変化するイノベーションの風景の中で私たちの場所を決定するので、技術的な意味で、人間の両方で生存の基礎を形成します。第1章では、無線周波数信号、落雷、その他の電気機器などの外部ソースから発生するEMFの基本について詳しく説明します。読者は、EMIがマイクロ波回路やデバイスにどのように影響するか、およびシールド、フィルタリング、適切な回路設計によってその影響を低減する方法を学びます。このフレームワークは、デバイス内の電荷キャリアのランダムな移動の結果であるサーマルノイズ、および電流の量子化された性質から得られるショットノイズを調査するための基礎を築いています。第2章では、サーマルノイズの起源、測定方法、およびマイクロ波デバイスに対する温度の影響について議論します。このテキストはまた、ジョンソン・ノイズとナイキスト・ノイズの概念をカバーしており、熱雑音物理学に強い接地性を読者に提供しています。