The monograph provides recommendations for the development of methods for assessing the reliability of microelectronic devices in operation under conditions of ionizing radiation. The monograph also considers the use of radiation-resistant semiconductor materials and structures, as well as the creation of protective coatings and shielding for microelectronic devices operating in conditions of ionizing radiation. The monograph will be useful for specialists working in the field of microelectronics, nuclear physics, and radiation safety. The book is intended to provide an overview of the current state of knowledge about the effects of ionizing radiation on integrated circuits and to identify promising areas for further research in this area. It should also serve as a reference for designers, engineers, and technologists who develop and operate microelectronic devices in environments with high levels of ionizing radiation. The book is written in a clear and accessible style, making it understandable even to those who do not have a deep technical background in the field of microelectronics. The book begins with an introduction to the history of the study of the effects of ionizing radiation on integrated circuits and the main directions of research in this area.

В монографии даны рекомендации по разработке методов оценки надежности микроэлектронных приборов в работе в условиях ионизирующего излучения. В монографии также рассматривается использование радиационно-стойких полупроводниковых материалов и структур, а также создание защитных покрытий и экранирования для микроэлектронных приборов, работающих в условиях ионизирующего излучения. Монография будет полезна специалистам, работающим в области микроэлектроники, ядерной физики, радиационной безопасности. Книга призвана дать обзор современного состояния знаний о воздействии ионизирующего излучения на интегральные схемы и определить перспективные области для дальнейших исследований в этой области. Он также должен служить ориентиром для конструкторов, инженеров и технологов, которые разрабатывают и эксплуатируют микроэлектронные устройства в средах с высоким уровнем ионизирующего излучения. Книга написана в ясном и доступном стиле, благодаря чему понятна даже тем, у кого нет глубокого технического бэкграунда в области микроэлектроники. Книга начинается с введения в историю изучения воздействия ионизирующего излучения на интегральные схемы и основных направлений исследований в этой области.

La monographie fournit des recommandations pour le développement de méthodes d'évaluation de la fiabilité des instruments microélectroniques en fonctionnement dans des conditions de rayonnement ionisant. La monographie examine également l'utilisation de matériaux et de structures semi-conducteurs résistants aux radiations, ainsi que la création de revêtements de protection et de blindage pour les appareils microélectroniques fonctionnant dans des conditions de rayonnement ionisant. La monographie sera utile aux spécialistes de la microélectronique, de la physique nucléaire et de la radioprotection. livre vise à donner un aperçu de l'état actuel des connaissances sur les effets des rayonnements ionisants sur les circuits intégrés et à identifier des domaines prometteurs pour de nouvelles recherches dans ce domaine. Il devrait également servir de référence aux concepteurs, ingénieurs et technologues qui développent et exploitent des dispositifs microélectroniques dans des environnements où les rayonnements ionisants sont élevés. livre est écrit dans un style clair et accessible, ce qui permet de comprendre même ceux qui n'ont pas de background technique profond dans le domaine de la microélectronique. livre commence par une introduction à l'histoire de l'étude des effets des rayonnements ionisants sur les circuits intégrés et les principaux domaines de recherche dans ce domaine.

En la monografía se formulan recomendaciones sobre el desarrollo de métodos para evaluar la fiabilidad de los instrumentos microelectrónicos en condiciones de radiación ionizante. La monografía también aborda el uso de materiales y estructuras semiconductoras resistentes a la radiación, así como la creación de recubrimientos de protección y blindaje para dispositivos microelectrónicos que funcionan en condiciones de radiación ionizante. La monografía será útil para los profesionales que trabajan en microelectrónica, física nuclear, seguridad radiológica. libro pretende ofrecer una visión general del estado actual del conocimiento sobre los efectos de la radiación ionizante en los circuitos integrados e identificar áreas prometedoras para nuevas investigaciones en este campo. También debe servir de referencia para los diseñadores, ingenieros y tecnólogos que desarrollan y operan dispositivos microelectrónicos en ambientes con altos niveles de radiación ionizante. libro está escrito en un estilo claro y accesible, por lo que es comprensible incluso para aquellos que no tienen un fondo técnico profundo en el campo de la microelectrónica. libro comienza con la introducción en la historia del estudio de los efectos de la radiación ionizante en los circuitos integrados y las principales líneas de investigación en este campo.

A monografia fornece recomendações para o desenvolvimento de métodos para avaliar a confiabilidade de aparelhos microeletrônicos em um ambiente de radiação ionizante. A monografia também aborda a utilização de materiais e estruturas semicondutores resistentes à radiação, bem como a criação de revestimentos de proteção e telas para aparelhos microeletrônicos que funcionam em condições de radiação ionizante. A monografia será útil para especialistas em microeletrônica, física nuclear, segurança de radiação. O livro tem o objetivo de fornecer uma visão do estado atual do conhecimento sobre os efeitos da radiação ionizante sobre os circuitos integrados e definir áreas promissoras para mais pesquisas neste campo. Ele também deve servir de orientação para construtores, engenheiros e técnicos que desenvolvem e operam dispositivos microeletrônicos em ambientes de alta radiação ionizante. O livro é escrito em um estilo claro e acessível, o que faz com que seja compreensível até para aqueles que não têm um background técnico profundo na área da microeletrônica. O livro começa com a introdução na história do estudo dos efeitos da radiação ionizante sobre os circuitos integrais e as principais áreas de pesquisa neste campo.

Nella monografia vengono fornite raccomandazioni per lo sviluppo di metodi per valutare l'affidabilità degli apparecchi microelettronici in condizioni di radiazione ionizzante. La monografia comprende anche l'utilizzo di materiali e strutture semiconduttori resistenti alle radiazioni, nonché la creazione di rivestimenti protettivi e schermi per apparecchi microelettronici che operano in condizioni di radiazione ionizzante. La monografia sarà utile agli esperti di microelettronica, fisica nucleare, sicurezza radiologica. Il libro ha lo scopo di fornire una panoramica dello stato attuale delle conoscenze sugli effetti delle radiazioni ionizzanti sui circuiti integrativi e di identificare le aree prospettiche per ulteriori ricerche in questo campo. Deve anche essere un punto di riferimento per costruttori, ingegneri e tecnici che sviluppano e sfruttano dispositivi microelettronici in ambienti ad alte radiazioni ionizzanti. Il libro è scritto in stile chiaro e accessibile, che rende comprensibile anche chi non ha un background tecnico profondo nel campo della microelettronica. Il libro inizia con l'introduzione alla storia di studiare gli effetti delle radiazioni ionizzanti sui circuiti integrali e le principali linee di ricerca in questo campo.

Die Monographie gibt Empfehlungen für die Entwicklung von Methoden zur Bewertung der Zuverlässigkeit mikroelektronischer Geräte im Betrieb unter Bedingungen ionisierender Strahlung. Die Monographie befasst sich auch mit der Verwendung strahlungsresistenter Halbleitermaterialien und -strukturen sowie der Schaffung von Schutzschichten und Abschirmungen für mikroelektronische Geräte, die unter Bedingungen ionisierender Strahlung arbeiten. Die Monographie wird für Fachleute aus den Bereichen Mikroelektronik, Kernphysik und Strahlenschutz nützlich sein. Das Buch soll einen Überblick über den aktuellen Wissensstand über die Auswirkungen ionisierender Strahlung auf integrierte Schaltungen geben und vielversprechende Bereiche für die weitere Forschung auf diesem Gebiet identifizieren. Es sollte auch als Referenz für Designer, Ingenieure und Technologen dienen, die mikroelektronische Geräte in Umgebungen mit hoher ionisierender Strahlung entwickeln und betreiben. Das Buch ist in einem klaren und zugänglichen Stil geschrieben, wobei es auch für diejenigen verständlich ist, die keinen tiefen technischen Hintergrund im Bereich der Mikroelektronik haben. Das Buch beginnt mit einer Einführung in die Geschichte der Untersuchung der Auswirkungen ionisierender Strahlung auf integrierte Schaltungen und der wichtigsten Forschungsrichtungen auf diesem Gebiet.

Monografia zawiera zalecenia dotyczące opracowania metod oceny niezawodności urządzeń mikroelektronicznych w działaniu w warunkach promieniowania jonizującego. Monografia rozważa również wykorzystanie materiałów i struktur półprzewodnikowych odpornych na promieniowanie, a także tworzenie powłok ochronnych i osłon dla urządzeń mikroelektronicznych działających w warunkach promieniowania jonizującego. Monografia będzie przydatna dla specjalistów z dziedziny mikroelektroniki, fizyki jądrowej, bezpieczeństwa promieniowania. Celem książki jest przedstawienie przeglądu aktualnego stanu wiedzy na temat wpływu promieniowania jonizującego na układy scalone oraz określenie obiecujących obszarów dalszych badań w tej dziedzinie. Powinna również służyć jako przewodnik dla projektantów, inżynierów i technologów, którzy opracowują i obsługują urządzenia mikroelektroniczne w środowiskach o wysokim poziomie promieniowania jonizującego. Książka jest napisana w jasnym i dostępnym stylu, co czyni ją zrozumiałą nawet dla tych, którzy nie mają głębokiego tła technicznego w dziedzinie mikroelektroniki. Książka rozpoczyna się od wprowadzenia do historii badań nad wpływem promieniowania jonizującego na układy scalone oraz głównych obszarów badań w tej dziedzinie.

המונוגרפיה מספקת המלצות על פיתוח שיטות להערכת אמינות של מכשירים מיקרואלקטרוניים בפעולה בתנאי קרינה מייננת. המונוגרפיה רואה גם שימוש בחומרים ומבנים מוליכים למחצה עמידים לקרינה, כמו גם יצירת מעילי הגנה ומיגון להתקנים מיקרואלקטרוניים הפועלים בתנאים של קרינה מייננת. המונוגרפיה תועיל למומחים שעובדים בתחום המיקרואלקטרוניקה, פיזיקה גרעינית, בטיחות קרינה. הספר שואף לספק סקירה של מצב הידע הנוכחי על השפעת הקרינה המייננת על מעגלים משולבים ולזהות תחומים מבטיחים למחקר נוסף בתחום זה. הוא גם צריך לשמש כמדריך למעצבים, מהנדסים וטכנולוגים שמפתחים ומפעילים מכשירים מיקרואלקטרוניים בסביבות עם רמות גבוהות של קרינה מייננת. הספר נכתב בסגנון ברור ונגיש, מה שהופך אותו למובן אפילו למי שאין לו רקע טכני עמוק בתחום המיקרואלקטרוניקה. הספר מתחיל עם הקדמה להיסטוריה של חקר ההשפעות של קרינה מייננת על מעגלים משולבים ותחומי המחקר העיקריים בתחום זה.''

Monografi, iyonlaştırıcı radyasyon koşulları altında çalışmakta olan mikroelektronik cihazların güvenilirliğini değerlendirmek için yöntemlerin geliştirilmesi konusunda öneriler sunmaktadır. Monograf ayrıca, radyasyona dayanıklı yarı iletken malzemelerin ve yapıların kullanımının yanı sıra, iyonlaştırıcı radyasyon koşulları altında çalışan mikroelektronik cihazlar için koruyucu kaplamaların ve kalkanların oluşturulmasını da dikkate almaktadır. Monografi, mikroelektronik, nükleer fizik, radyasyon güvenliği alanında çalışan uzmanlar için yararlı olacaktır. Kitap, iyonlaştırıcı radyasyonun entegre devreler üzerindeki etkileri hakkındaki mevcut bilgi durumuna genel bir bakış sağlamayı ve bu alanda daha fazla araştırma için umut verici alanları belirlemeyi amaçlamaktadır. Ayrıca, yüksek düzeyde iyonlaştırıcı radyasyona sahip ortamlarda mikroelektronik cihazlar geliştiren ve işleten tasarımcılar, mühendisler ve teknoloji uzmanları için bir rehber görevi görmelidir. Kitap açık ve erişilebilir bir tarzda yazılmıştır, bu da mikroelektronik alanında derin bir teknik geçmişe sahip olmayanlar için bile anlaşılabilir kılar. Kitap, iyonlaştırıcı radyasyonun entegre devreler üzerindeki etkilerinin ve bu alandaki ana araştırma alanlarının incelenmesinin tarihine bir giriş ile başlar.

تقدم الدراسة توصيات بشأن تطوير طرق لتقييم موثوقية الأجهزة الإلكترونية الدقيقة العاملة في ظل ظروف الإشعاع المؤين. وتنظر الدراسة أيضا في استخدام مواد وهياكل أشباه الموصلات المقاومة للإشعاع، فضلا عن إنشاء طلاءات واقية ودرع للأجهزة الإلكترونية الدقيقة العاملة في ظل ظروف الإشعاع المؤين. ستكون الدراسة مفيدة للمتخصصين العاملين في مجال الإلكترونيات الدقيقة والفيزياء النووية والأمان الإشعاعي. يهدف الكتاب إلى تقديم لمحة عامة عن الحالة الحالية للمعرفة حول آثار الإشعاع المؤين على الدوائر المتكاملة وتحديد المجالات الواعدة لمزيد من البحث في هذا المجال. يجب أن يكون أيضًا بمثابة دليل للمصممين والمهندسين والتقنيين الذين يطورون ويشغلون الأجهزة الإلكترونية الدقيقة في بيئات بها مستويات عالية من الإشعاع المؤين. الكتاب مكتوب بأسلوب واضح ويمكن الوصول إليه، مما يجعله مفهومًا حتى بالنسبة لأولئك الذين ليس لديهم خلفية تقنية عميقة في مجال الإلكترونيات الدقيقة. يبدأ الكتاب بمقدمة لتاريخ دراسة آثار الإشعاع المؤين على الدوائر المتكاملة ومجالات البحث الرئيسية في هذا المجال.

이 논문은 이온화 방사선 조건에서 작동중인 마이크로 전자 장치의 신뢰성을 평가하는 방법 개발에 대한 권장 사항을 제공합니다. 이 논문은 또한 방사선 방사선 방사선 조건 하에서 작동하는 마이크로 전자 장치를위한 보호 코팅 및 차폐뿐만 아니라 방사선 저항성 반도체 재료 및 구조물의 사용을 고려한다. 이 논문은 마이크로 일렉트로닉스, 핵 물리학, 방사선 안전 분야에서 일하는 전문가에게 유용 할 것입니다. 이 책은 집적 회로에 대한 이온화 방사선의 영향에 대한 현재의 지식 상태에 대한 개요를 제공하고이 분야의 추가 연구를위한 유망한 영역을 식별하는 것을 목표로합니다. 또한 높은 수준의 이온화 방사선 환경에서 마이크로 전자 장치를 개발하고 운영하는 설계자, 엔지니어 및 기술자를위한 가이드 역할을해야합니다. 이 책은 명확하고 접근하기 쉬운 스타일로 작성되어 마이크로 일렉트로닉스 분야에서 깊은 기술적 배경을 가지고 있지 않은 사람들에게도 이해할 수 있습니다. 이 책은 집적 회로와이 분야의 주요 연구 영역에 대한 이온화 방사선의 영향에 대한 연구의 역사에 대한 소개로 시작됩니다.

モノグラフは、電離放射条件下で動作中のマイクロエレクトロニクスデバイスの信頼性を評価する方法の開発に関する提言を提供します。また、このモノグラフでは、耐放射線性半導体材料や構造物の使用や、電離放射線の条件下で動作するマイクロエレクトロニクスデバイス用の保護コーティングおよびシールドの作成も検討しています。このモノグラフは、マイクロエレクトロニクス、原子核物理学、放射線安全の分野で働く専門家に役立ちます。本書では、電離放射線が集積回路に及ぼす影響に関する知識の現状を概観し、今後の研究の有望な領域を明らかにすることを目的としている。また、イオン化放射の高い環境でマイクロエレクトロニクスデバイスを開発・運用するデザイナー、エンジニア、技術者のためのガイドとしても役立ちます。この本は明確でアクセス可能なスタイルで書かれているため、マイクロエレクトロニクスの分野で深い技術的背景を持っていない人でも理解できます。本書は、電離放射線が集積回路に及ぼす影響の研究の歴史と、この分野における主な研究領域の紹介から始まります。

本專著為開發評估微電子儀器在電離輻射條件下工作的可靠性的方法提供了建議。該專著還探討了耐輻射半導體材料和結構的使用，以及在電離輻射條件下運行的微電子儀器的保護塗層和屏蔽的創建。該專著將對從事微電子，核物理和輻射安全領域的專家有用。該書旨在概述有關電離輻射對集成電路影響的知識的最新狀態，並確定該領域進一步研究的潛在領域。它還應該作為設計人員、工程師和技術人員在高電離輻射環境中開發和操作微電子設備的參考。這本書以清晰易懂的風格寫成，因此即使是那些在微電子領域沒有深度技術背景的人也可以理解。本書首先介紹了電離輻射對集成電路和該領域主要研究方向的影響。